Gentec-EO – Détecteurs d’énergie & Détecteurs de puissance
Diagnostics de
faisceau
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Bas coût
Imagerie 2-D
De l'UV à l'IR
Imagerie X-Y
pour grands faisceaux
Temps réel
Profilométrie X-Y-Z + θ-φ
Abordable
Profilométrie X-Y sub-micronique
Beamage (Focus)
BeamScope-P8
BeamMap2
Beam'R2
Fiche technique
Fiche technique
Fiche technique
Fiche technique
Description
Profilométrie
X-Y
X-Y
X-Y-Z
X-Y
Imagerie
Numérique (CCD)
Trou d'épingle avec plateau 2D
Concentration, profils, divergence et collimation
Manuel
Manuel
Temps réel
Manuel
Alignement
M
2
Avec plateau 2D optionnel
Avec trou d'épingle
+ plateau 2D (en option)
Temps réel
Méthode
Trou d'épingle
(avec plateau 2D)
Fente de lecture simple
Fente de lecture X-Y
Fentes dans des plans multiples
Mode lame de couteau
Capteur photographique CMOS/CCD
Applications
Lasers continus
Lasers pulsés
Capture de pulse unique
jusqu'à 20 kHz
> 5 kHz
> 100 kHz
> 100 kHz
Longueurs d'onde (nm)
1 - 350
Avec convertisseur UV
190 - 1100
Détecteur Si
Détecteur Si
Détecteur Si
260 - 1150
Version -UV
350 - 1150
Standard
350 - 1330
Version -1310
650 - 1800
Détecteur InGaAs
Détecteur InGaAs
800 - 1800
Détecteur Ge
1480 - 1680
Avec adaptateur CamIR ou -IR
800 - 2500
Détecteur InGaAs étendu
Détecteur InGaAs étendu
Détecteur InGaAs étendu
1500 - 4000
Détecteur InAs
caractéristiques
Meilleure résolution
1 µm
0.1 µm
0.5 µm
0.5 µm
Taux de rafraichissement
10 - 25 Hz
1 - 2 Hz
(0.01 Hz avec plateau 2D)
3 Hz (temps réel)
3 Hz (temps réel)
* Spécifications sujettes à changement sans préavis.
Cette section est actuellement
en construction et sera
disponible sous peu.
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