Gentec-EO – Détecteurs d’énergie & Détecteurs de puissance

Diagnostics de faisceau

 

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Diagnostics de faisceau
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WEEE/RoHS compliant Bas coût
Imagerie 2-D 
De l'UV à l'IR
Imagerie X-Y
pour grands faisceaux 
Temps réel
Profilométrie X-Y-Z + θ-φ 
Abordable
Profilométrie X-Y sub-micronique 
Beamage (Focus) BeamScope-P8 BeamMap2 Beam'R2
Description        
Profilométrie X-Y  X-Y  X-Y-Z  X-Y 
Imagerie Numérique (CMOS et CCD)  Trou d'épingle avec plateau 2D     
Concentration, profils, divergence et collimation Manuel  Manuel  Temps réel  Manuel 
Alignement        
M2 Avec plateau 2D optionnel  Avec trou d'épingle
+ plateau 2D (en option) 
Temps réel   
Méthode        
Trou d'épingle   (avec plateau 2D)     
Fente de lecture simple        
Fente de lecture X-Y        
Fentes dans des plans multiples        
Mode lame de couteau        
Capteur photographique CMOS/CCD        
Applications        
Lasers continus        
Lasers pulsés Capture de pulse unique
jusqu'à 20 kHz 
> 5 kHz  > 100 kHz  > 100 kHz 
Longueurs d'onde (nm)        
1 - 350 Avec convertisseur UV       
190 - 1100   Détecteur Si  Détecteur Si  Détecteur Si 
260 - 1150 Version -UV       
350 - 1150 Standard       
350 - 1330 Version -1310       
650 - 1800     Détecteur InGaAs  Détecteur InGaAs 
800 - 1800   Détecteur Ge     
1480 - 1680 Avec adaptateur CamIR ou -IR       
800 - 2500   Détecteur InGaAs étendu  Détecteur InGaAs étendu  Détecteur InGaAs étendu 
1500 - 4000   Détecteur InAs     
caractéristiques        
Meilleure résolution 1 µm  0.1 µm  0.5 µm  0.5 µm 
Taux de rafraichissement 10 - 25 Hz  1 - 2 Hz
(0.01 Hz avec plateau 2D) 
3 Hz (temps réel)  3 Hz (temps réel) 

* Spécifications sujettes à changement sans préavis.

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