Gentec-EO – Détecteurs d’énergie & Détecteurs de puissance

Diagnostics de faisceau
 

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Diagnostics de faisceau
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WEEE/RoHS compliant Bas coût
Imagerie 2-D 		   Abordable
Profilométrie X-Y sub-micronique 		 Temps réel
Profilométrie X-Y-Z + θ-φ 		 De l'UV à l'IR
Imagerie X-Y
pour grands faisceaux 
Beamage Beamage-Focus Beam'R2 BeamMap2 BeamScope-P8
Description          
Profilométrie X-Y    X-Y  X-Y-Z  X-Y 
Imagerie Numérique (CCD)        Trou d'épingle avec plateau 2D 
Concentration, profils, divergence et collimation Manuel    Manuel  Temps réel  Manuel 
Alignement          
M2 Avec plateau 2D optionnel      Temps réel  Avec trou d'épingle
+ plateau 2D (en option) 
Méthode          
Trou d'épingle         (avec plateau 2D) 
Fente de lecture simple          
Fente de lecture X-Y          
Fentes dans des plans multiples          
Mode lame de couteau          
Capteur photographique CCD          
Applications          
Lasers continus          
Lasers pulsés Capture de pulse unique
jusqu'à 20 kHz 		   > 100 kHz  > 100 kHz  > 10 kHz 
Longueurs d'onde (nm)          
1 - 350 Avec convertisseur UV         
190 - 1150     Détecteur Si  Détecteur Si  Détecteur Si 
260 - 380 Version -UV         
350 - 1150 Standard         
350 - 1330 Version -1310         
675 - 1750     Détecteur InGaAs  Détecteur InGaAs   
800 - 1800         Détecteur Ge 
1480 - 1680 Avec adaptateur CamIR ou -IR         
800 - 2500     Détecteur InGaAs étendu  Détecteur InGaAs étendu   
1500 - 3500         Détecteur InAs 
caractéristiques          
Meilleure résolution 1 µm    0.5 µm  0.5 µm  0.1 µm 
Taux de rafraichissement 10 Hz    5 Hz (temps réel)  5 Hz (temps réel)  1 - 2 Hz
(0.01 Hz avec plateau 2D) 

* Spécifications sujettes à changement sans préavis.

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en construction et sera
disponible sous peu.