Gentec-EO – Détecteurs d’énergie & Détecteurs de puissance

Diagnostics de faisceau
 

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CARACTÉRISTIQUES 2-D
  • Profil X-Y, de l’UV jusqu’à 10 microns
  • Imagerie de faisceau et mesure du facteur M2 (avec plateau 2D)
  • Pour lasers continus et pulsés avec taux de répétition > 5 kHz
  • Possibilité d’imager des faisceaux plus gros qu’avec la Beamage™
    • CARACTÉRISTIQUES PRINCIPALES
  • De 3 microns à 44 millimètres
  • Options pour 190 nanomètres à 4 microns
  • Parfait pour les endroits confinés
  • Profils linéaires et logarithmiques pour voir l’énergie en bordure du faisceau
  • La fente de balayage linéaire rencontre la norme ISO 11146
  • Plage dynamique de 55 dB (= 300 000: 1)
  • Mesures de M2 reproductibles à l'intérieur d'une plage de 0.2% (avec plateau 2D optionnel)
  • Possibilité de balayer une région de 23 x 45 mm (avec plateau 2D optionnel)


    • MAINTENANT DISPONIBLE AVEC CONNEXION USB 2.0 !
    APPLICATIONS TYPIQUES
    Les produits BeamScope sont utilisés pour caractériser les lasers les laser, les diodes lasers, le matrices de diodes et les microlentilles. Nos produits s’appliquent tant au développement et à l’alignement qu’en production et en assurance qualité.
    Cette section est actuellement
    en construction et sera
    disponible sous peu.