Gentec-EO – Détecteurs d’énergie & Détecteurs de puissance

Spécifications
 techniques Manuel d'utilisateur

Si vous cherchez à effectuer le contrôle « en-ligne » d’application à haute puissance, la série des HBS de Gentec-EO est la solution. C’est la méthode d’atténuation idéale pour la profilométrie car le profil spatial du faisceau est conservé.

En tant que pionnier dans le monitoring en ligne de lasers à puissance élevée, Gentec-EO vous a apporté les avantages de l'échantillonnage holographique sans la vulnérabilité des revêtements normalement utilisés pour fabriquer les composantes holographiques. L'échantillonnage holographique signifie que vous obtenez des échantillons spatiaux précis du faisceau, de 10% à aussi bas que 10^-8% de la puissance incidente. Cela signifie que vous obtenez plusieurs échantillons en même temps. Cela signifie également que la polarisation dans les échantillons est maintenue avec précision. Cela signifie que plus de 99 % du faisceau continue directement à travers le HBS vers votre application. Cela signifie que la vibration, la température et l'humidité n'affecteront pas votre mesure. En raison de notre processus de fabrication breveté et unique, vous obtenez tout cela en plus d’un seuil de dommage aussi élevé que celui de la silice fondue sans revêtement !

Si vous avez besoin d’un HBS de plus grand diamètre ou pour des longueurs d'ondes, des rapports ou des angles d’échantillonnage différents, veuillez contacter Gentec-EO. Nous vous fabriquerons sur demande le HBS et les revêtements selon vos spécifications.