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BEAMAGE-4M-IR

P/N 202955

光束分析相机带有荧光涂层,用于 IR 波长(1495-1595 纳米)。

主要功能

USB 3.0的最大传输速率

比普通USB 2.0(USB 2.0也具备兼容性)接口快10倍

高分辨率

兆像素的分辨率即使是准确分析测量极小的光束也能够游刃有余:

  • 2.2兆像素的分辨率(Beamage-3.0)
  • 4.2兆像素的分辨率(Beamage-4M)

大孔径

  • 11.3 x 6.0 mm(Beamage-3.0)
  • 11.3 x 11.3 mm(Beamage-4M)
  • 20.5 x 20.5 mm(Beamage-4M-FOCUS)

提供IR涂层处理

Beamage-IR产品经过特殊荧光剂处理,用于IR波长(1495-1595纳米)

符合ISO标准

D4σ直径清晰度、质心、椭圆率、和定向符合国际标准ISO 11146:2004以及ISO 11146:2005的规定

简单高效

简单的界面给人非常直观的感觉。界面中具有许多有用的功:

  • 2D、3D和XY显示屏
  • 背景消除功能
  • 独一无二的“动画”功能
  • 高斯拟合
  • 半对数图

外部触发

能够使得相机与脉冲激光机同步

兼容性支架

测量能力

  • 光谱范围

    1495 - 1595 nm
  • 最小可测量光束

    55 μm
  • 传感器技术

    CMOS(附有荧光涂层)
  • 像素数量

    4.2兆像素
  • H x V

    2048 x 2048
  • 光速直径清晰度

    D4σ(符合 ISO 标准)<br/>沿着瞄准器的 1/e2 (13.5%)<br/>沿着瞄准器的半高宽 (50%)<br/>自定义 (%)
  • 快门类型

    Global
  • 帧速率

    6.2 fps @ 4.2兆像素 (完全帧)
  • ADC 级别

    12 位(默认)/ 10 位(选择)
  • RMS 噪声

    1000:1 (60 dB)

损坏阈

  • 最大功率密度1

    10 W/cm²
  • 最大能量密度2

    300 µJ/cm²
  • 最大功率3

    1 W
    • 1. 1064 nm。附有 ND4 滤光片。
    • 2. 1064 nm。附有 ND4 滤光片。
    • 3. 1064 nm。附有 ND4 滤光片。

物理特性

  • 尺寸

    61H x 81.1W x 19.7D mm
  • 重量

    0.14 kg
  • 像素尺寸

    5.5 μm
  • 内含滤光片

    ND4
  • 主动区

    11.3 x11.3 mm

直观的软件界面

1 - 主要控制

软件上半部分包含条带格式的所有主要控制。这些控制可按类别分组成:捕获控制、文件控制、缓存管理、M2 控制和数据计算。最后一项包括非常有用的过滤器和正则化功能。

2 - 显示屏

软件左侧为显示面板。其中提供了四种显示屏:三维、二维、XY(横截面图和瞄准器)及光束跟踪。单击面板底部的相应图标可选择所需显示屏。三维、二维和光束跟踪显示屏具有打印屏幕控制,允许用户以 BMP 格式保存当前视图的图像。

3 - 主页和设置选项卡

软件右侧包含主页、设置和数据采集选项卡。主页选项卡允许用户选择针对其测量的主要控制(光束直径清晰度、瞄准器中心和定向),并在其下显示测量结果。设置选项卡允许用户设置测量参数(曝光时间、图像定向和平均值、主动区等),数据采集选项卡允许用户保存测量值或测量值及完整图像,并输入采集的采样率和总持续时间。单击计算面板中的显示/隐藏选项按钮,还可调出具有高级控制功能的更多选项卡。

三维、二维和 XY 显示屏

三维显示屏

三维显示屏可显示光束的实际形状,可轻松对图像进行缩放、移动和旋转。重置按钮非常有用,可允许用户将数据返回原始配置。此显示屏还带有一个可以 BMP 格式保存最新图像的打印屏幕按钮。

二维显示屏

二维显示屏可显示瞄准器(设置到长轴和短轴或沿指定角度方向)和光束的测定直径。这些直径随所选清晰度(4-sigma、半峰全宽、1/e2 等)而变化,该显示屏可以打开或关闭。打印屏幕按钮允许用户以 BMP 格式保存当前屏幕的图片。

XY 显示屏

XY 显示屏绘制沿瞄准器的光束横截面图。其具有很多有用工具,包括缩放、光标、半峰全宽和 1/e2 级别条。另外还可以半对数格式显示图形,以增强光束低强度部分的细节。

光束跟踪显示屏

光束跟踪显示屏允许用户对光束在传感器上中心位置的变化进行可视化显示。其可显示最新计算位置和以前的位置,除非用户重置视图。另外还可显示所有计算值的平均数位置,并提供有关 X 轴和 Y 轴位置稳定性的信息。此工具非常适合于监控光束随时间变化的指向稳定性。

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