較正

当社の電気機器はすべて認定較正業者によって較正されています。較正の時点で、較正に使用する機器がすべての公開仕様を満たしている、またはそれ以上であること、さらに、NIST追跡可能な較正基準および/またはその他の既知の国際基準を使用して較正がなされていることを認証します。実験室の電気的および物理的特性は大気温度、相対湿度、清浄度において最高要件を満たしています。使用する装置はISO 9001:2015およびISO/IEC 17025:2017の要件を満たす手順により維持されています。

すべてのディテクタはそれぞれ個別にNIST基準追跡可能な最高精度で較正されます。各種波長で安定したレーザー源が当社の較正プロセスで使用されています。

当社で非常によくある誤解は、較正不確実性の絶対値です。この値は、プロセスに存在するあらゆる不確実性の源を考慮する、複合的な統計方式を使用して示されていることにご留意ください。下図1はこれらのステップ、またそれに対応する不確実性値への寄与を示しています。ご覧のとおり、メーカー自身はこれらの源の一つにすぎません。

全ての波長はNIST較正が可能であるという誤解もみられます。NISTは157 nm（F₂エキシマレーザー）～10.6 μm（CO₂レーザー）の明確な波長に関してのみ参照を示します。この範囲内のその他の波長、またはこの範囲外の波長は付加的エラーの対象となります。

NIST較正波長の詳細についてはウェブサイトをご覧ください：https://www.nist.gov/calibrations

NIST参照との偏差を埋めるため、Gentec-EOでは、250 nm～2.5 µmの、NIST追跡可能な唯一の較正ステップ（nm単位）を提供しています。当社はNIST追跡可能な分光光度計にもとづく独自の設定を使用して、これを実現しています。このように、標準値ではなく、当社ではNIST追跡可能較正をお客様にお届けしています。その結果、300～2200 nmのスペクトルにおいて、本来の較正精度との誤差±1%以下の包括的な精度を保証しています。

Gentec-EOディテクタにはすべて、それぞれ個別波長修正認証が添付されています。修正係数はお客様のディテクタでなされた測定にもとづいています。これらは同等製品の一般的な吸収材曲線や、基本的な反応にもとづくものではありません。つまり、市場で最も優れた波長修正ツールをご利用いただけることになります。このデータはお客様のGentec-EOディテクタのSmart Interfaceに保存され、モニターで波長を選択するだけで、市場で最も精密なレーザー測定を得ることができます。