ZH

PH20-Ge-D0

P/N 200866

光电二极管探测器的激光功率测量高达 30 mW。

    • 5 mm Ø
    • 7 mm Ø
    • 10 mm Ø
    • 锗
    • 硅
    • 紫外线 - 硅
    • 无
    • OD1
    • OD2
    • OD0.3
    • Standard
    • INTEGRA (USB)
    • INTEGRA (RS-232)
    • INTEGRA（带有外部触发器的 USB）
    • BLU（无线）
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可追溯校准

Logo nist

适用于

Logo Integra

产品系列主要特性

大光圈

硅传感器光圈为10 mm直径

3种型号

  • 硅 350 - 1080 nm，高达750 mW
  • 紫外硅 210 - 1080 nm，高达38 mW
  • 锗 800 - 1650 nm，高达500 mW

衰减器选择

高准确度

全新PH100-Si-HA大幅降低校准不确定因素

准确校准

波长选择 1 nm一格

智能接口

包含所有的校准数据

兼容性支架

兼容的显示设备和计算机接口

  • MIRO ALTITUDE MIRO ALTITUDE

    用于功率和能量测量的触屏显示设备。单通道、多输出。

  • MAESTRO MAESTRO

    用于功率和能量测量的触屏显示设备。单通道、多输出（USB、以太网、模拟）。

  • U-LINK (USB) U-LINK (USB)

    用于功率和能量测量的计算机接口。单通道、USB 输出。

  • U-LINK (RS-232) U-LINK (RS-232)

    用于功率和能量测量的计算机接口。单通道、RS-232 输出。

  • INTEGRA INTEGRA

    用于功率和能量测量的嵌入式计算机接口。仅可作为探测器输出选项购买。

  • TUNER TUNER

    具有调整式指针的显示设备，用于功率测量。单通道。

  • UNO UNO

    用于功率测量的经济型显示设备。单通道。

  • P-LINK (USB) P-LINK (USB)

    用于功率测量的计算机接口。单通道、USB 输出。

  • P-LINK (RS-232) P-LINK (RS-232)

    用于功率测量的计算机接口。单通道、RS-232 输出。

  • M-LINK M-LINK

    用于功率和能量测量的计算机接口。单通道、USB 输出。

  • P-LINK-4 (USB) P-LINK-4 (USB)

    用于功率测量的计算机接口。四通道。

包括

  • Calibration Calibration

    Calibration certificate

  • PWC PWC

    PERSONAL WAVELENGTH CORRECTION(TM) 证书

  • COVER

    光学表面保护罩

打印规格

测量能力

  • 最大平均功率1

    30 mW

  • 噪声等效功率2

    60 pW

  • 光谱范围

    800 - 1650 nm

  • 典型升起时间

    0.2 s

  • 功率校准不确定性

    ±5.0 % (800 - 1049 nm)
    ±3.5 % (1050 - 1559 nm)
    ±7.0 % (1560 - 1629 nm)
    ±10 % (1630 - 1650 nm)

  • 峰值灵敏度

    0.98 A/W @ 1550 nm

  • 最小重复率3

    1000 Hz
    • 1. 1064 nm。查看其他波长的最大功率曲线。
    • 2. 1550 nm。标称值。实际值取决于环境电磁干扰和波长。
    • 3. 详细信息请参阅用户手册。

损坏阈

  • 最大平均功率密度

    100 W/cm²

物理特性

  • 孔径

    5 mm

  • 吸收器

    Ge

  • 尺寸

    38.1Ø x 27.4D mm

  • 重量

    0.13 kg

  • 距传感器表面距离

    10.5 mm
联系销售人员

使用锗吸收器测量近红外范围

基于光电二极管的检测器，用于测量非常低的功率，对近红外波长（800-1650 nm）响应迅速。

可为客户提供以下优势：

  • 较宽的动态范围
  • 噪音微乎其微
  • 快速响应
  • 对可见光不敏感

深入了解您的激光行为

不再为电子表格烦恼——让我们的数据查看器在浏览器中将原始数字转化为清晰洞察。只需从 PC-Gentec-EO 导入您的数据日志文件，即可立即通过清晰的图表、详细的参数和有用的统计数据来可视化您的激光测量。

为什么要使用它？

  • 放大任何数据片段以进行深入分析
  • 几秒内访问详细的测量参数和趋势
  • 获取可直接用于报告或故障排查的可视化洞察
  • 同时打开并比较多个日志文件
 

包括 NIST 可追溯校准

可追溯校准可将激光输出测量的读数追溯到美国国家标准与技术研究院（NIST）确定的已知国际测量标准。这确保了仪器测量的可靠性和准确性。

其优势包括：

  • 对组织内外其他仪器的测量结果进行有效比较，并对不同时间的测量结果进行比较
  • 符合法规或行业标准
  • 避免在运行中出现代价高昂的测量错误
  • 增强客户对激光系统的信心
  • 确保实验室实验的有效性
  • 利用我们提供的校准证书，轻松证明测量的准确性

 

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INTEGRA（USB 或 RS-232）输出选择

当您选择 INTEGRA 输出选项时，您将获得集检测器和仪表于一体的便捷的一体化测量仪器产品。将检测器插入电脑，安装我们的免费软件，即可开始测量。

为何如此选择？

  • 最具成本效益的解决方案
  • 与其他解决方案具有相同的测量性能
  • 接口功能和特性不打折扣
  • 适用于 OEM 应用和现场维修的紧凑型解决方案
  • 多功能仪器可节省重新校准的费用
 

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